产品简介：
GTEM室射频辐射抗扰度测试系统是公司根据IEC/EN61000-4-3标准要求基于GTEM技术开发的射频抗扰度预检测测试系统，全系统性能可靠，操作便捷，测试效果堪与暗室比拟，目前已广泛应用于电力、通信、军工、质检等领域，为评定小型电子设备对辐射电磁场干扰敏感性建立有力的测试依据。
产品简介：
GTEM室射频辐射抗扰度测试系统是公司根据IEC/EN61000-4-3标准要求基于GTEM技术开发的射频抗扰度预检测测试系统，全系统性能可靠，操作便捷，测试效果堪与暗室比拟，目前已广泛应用于电力、通信、军工、质检等领域，为评定小型电子设备对辐射电磁场干扰敏感性建立有力的测试依据。
产品特点
1． 满足IEC/EN61000－4－3标准的测试规程对辐射抗扰度测试的要求；
2． 与暗室及开阔场相比，系统配置更加简化，操作方式更为便捷，可节省大量测试时间；
3． 在全频段拥有优异的电压驻波比（VSWR）,可产生均匀且便于计算的电磁场。
主要技术参数
工作频率范围： 1～1000MHZ（可扩展至数GHZ）
电压驻波比：VSWR£1.7
时域阻抗：50±2W
最大输入功率：1000W
电场强度范围：0～200V/M(根据输入功率大小）